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MOF-5的比表面積測試(希望能正視聽)-晶體-小木蟲-學術科研

炭黑總表面積及外表面積測(ce)定等,廣泛適用于高校及科研院所(suo)材(cai)料研究(jiu)和粉(fen)體材(cai)料生產MOF比表面積及孔徑檢測(ce)儀測(ce)試范圍:比表面0.01m2/g以上(shang),微孔0.35-2nm;介。

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詞條(tiao):孔(kong)徑測(ce)量孔(kong)徑測(ce)量指對于孔(kong)的直徑的測(ce)量,有(you)直接測(ce)量、間接測(ce)量和綜合測(ce)量等測(ce)量方法(fa)。孔(kong)徑測(ce)量是(shi)長度計(ji)量技術的主要內容之一。[查看詞條(tiao)]。

大孔徑的測量-《計量技術》1990年02期

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孔徑(jing)測量(阿貝像點)儀是(shi)利(li)用光學像點原(yuan)理(li)進行(xing)非(fei)接觸瞄準的高精(jing)度(du)測量儀。可以用來測量:精(jing)密通(tong)孔直徑(jing),圓柱(zhu)外徑(jing);平行(xing)平面間距等(deng)長(chang)度(du)尺(chi)寸(cun),并且可以對同(tong)一尺(chi)寸(cun)在不同(tong)。

孔徑測量-學術百科-知網空間

氬作為吸附物質使用不僅具有獲得(de)可靠的孔徑分析結果的優(you)點,也同樣獲得(de)可靠的比近用分子模(mo)擬研究嘗試了(le)BET在微孔MOF表面(mian)測(ce)定(ding)中的應用可能性[11,12]。BET表。

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2008年4月2日-孔(kong)徑測(ce)(ce)量的(de)方法播主孔(kong)的(de)測(ce)(ce)量技術視(shi)頻7上傳:雙母(mu)線測(ce)(ce)量儀相關視(shi)頻孔(kong)徑測(ce)(ce)量的(de)方法0來玩(wan)大家都(dou)玩(wan)壞(huai)的(de)谷歌姐!!050分鐘。

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2005年10月19日(ri)-對於孔的直徑的測(ce)量,有直接(jie)測(ce)量、間接(jie)測(ce)量和綜(zong)合測(ce)量等測(ce)量方法(fa)。孔徑測(ce)量是長(chang)度計(ji)量技術的主要內容之一。直接(jie)測(ce)量利(li)用兩點或(huo)三點定位,直接(jie)測(ce)量出。

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[圖文]中孔金(jin)屬(shu)有(you)機骨架材料(MOFs)的(de)設計合成方法主要包括:(1)通過延(yan)長配體的(de)長度,調節次級結構(gou)單(dan)元大小,從而提高MOF孔徑;(2)采用混(hun)合配體,構(gou)筑(zhu)新(xin)型次級結構(gou)單(dan)元,獲得中。

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